Chroma ATE apresenta tecnologia de teste avançada para impulsionar a revolução da IA ​​na SEMICON Taiwan 2023

Sep 17, 2023

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30 de agosto de 2023, 07:00 CST

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TAOYUAN, 30 de agosto de 2023 /PRNewswire/ -- A Chroma ATE Inc., fornecedora líder de equipamentos de teste automatizados, está participando da SEMICON Taiwan 2023. A empresa exibirá uma série de soluções de teste inovadoras com foco em inteligência artificial (IA ), aplicações de computação de alto desempenho (HPC), automotivas e AIoT, com o objetivo de atender às necessidades em constante evolução de testes de semicondutores.

Soluções avançadas de teste SoC/analógico

O sistema de teste SoC/Analógico Chroma 3650-S2 é uma plataforma de teste de IC de potência de alto desempenho que atende às necessidades atuais de CIs de potência de controle digital complexo de alta tensão, alta corrente e. Ele vem equipado com até 768 E/S digitais e pinos analógicos com capacidade de fonte de alimentação de até 3000V ou 320A, apresentando taxa de dados de 200Mbps e precisão de posicionamento de borda (EPA) de 300ps. É a escolha ideal para testar ICs de sistema de gerenciamento de bateria de lítio (BMS), ICs de gerenciamento de energia (PMIC) e ICs de energia relacionados a GaN e SiC.

O sistema de teste SoC avançado Chroma 3680 atende com eficácia às necessidades de teste de chips de última geração usados ​​em IA e tecnologias automotivas. O sistema fornece até 2.048 pinos de E/S com taxas de dados de até 1 Gbps, suporta memória vetorial SCAN de até 16 G e oferece uma variedade de módulos de teste para os usuários escolherem. Ele tem a capacidade de realizar simultaneamente testes de lógica digital, unidade de teste paramétrico, potência, memória, sinal misto e comunicação sem fio RF.

Soluções de teste de chip RF

Os sistemas de teste automatizado Chroma 3680/3380/3300, integrados ao testador RFIC modelo 35806, oferecem uma solução abrangente de teste de chip de radiofrequência (RF) que já foi validada para produção em massa por nossos clientes. Esta solução aprimorada oferece suporte a uma variedade de aplicações, incluindo Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT, bem como padrões de comunicação GPS/BeiDou e Tuner & PA IoT. Notavelmente, ele apresenta um módulo VSG/VSA de largura de banda de frequência ultra-alta com cobertura que varia de 300K até 6GHz, tornando-o adequado para um amplo espectro de padrões emergentes de comunicação sem fio.

Solução de teste SLT Tri-Temp

Chroma 31000R-L é um sistema de teste Tri-Temp projetado para atender aos mais exigentes requisitos de teste térmico. Com capacidades de controle de temperatura estáveis ​​que variam de -40°C a +150°C e capacidade de resfriamento DUT (Dispositivo sob teste) de até 1.800 W, este sistema é a escolha ideal como solução de teste IC Tri-Temp de alta tecnologia.

O Chroma 31000R-L pode ser perfeitamente emparelhado com modelos Chroma como 3210, 3110, 3260 e 3200, fornecendo uma solução de teste Tri-Temp SLT (System Level Test) abrangente adequada para ambientes de laboratório e fábrica. A solução de teste Tri-Temp da Chroma atende a uma ampla gama de aplicações IC avançadas e de ponta, incluindo automotiva, IA e data center, GPU, APU, HPC, aeroespacial e defesa. Projetado para garantir que os CIs funcionem perfeitamente em ambientes agressivos, esta é a escolha ideal para testes de confiabilidade de produtos.

Guardião da Qualidade de Isolamento para Dispositivos Semicondutores de Potência

Dispositivos semicondutores de potência (por exemplo, IGBTs, SiC-MOSFETs) são usados ​​em vários campos que tendem a empregar alta potência/grande corrente para circuitos de conversão/controle de energia, e isoladores (por exemplo, optoacopladores, isoladores digitais) são usados ​​em ambientes onde a tensão a diferença entre dois lados (ou seja, lado primário e lado secundário) precisa ser isolada. Como diferenças de tensão ou diferenças de potencial mais altas aparecem entre esses componentes, é muito importante garantir que esses componentes possam manter um bom isolamento de tensão sob condições normais de operação e não tenham descarga parcial contínua (PD), o que pode levar à degradação do isolamento. O testador de descarga parcial da série Chroma 19501 está em conformidade com os requisitos de medição PD da IEC 60270-1, e os métodos de teste especificados no regulamento foram projetados no instrumento. Ele pode fornecer teste AC Hipot (máx. 10kVac) e medição de descarga parcial (máx. 6000pC), o que pode efetivamente garantir a qualidade e confiabilidade da operação de longo prazo para dispositivos semicondutores de potência e isoladores.